1 000 000x увеличение: как СЭМ раскрывает невидимый мир?
Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) — это мощный инструмент, который позволяет увидеть детали предметов на микроскопическом уровне.
Представьте себе, что вы можете рассмотреть поверхность маленького объекта с увеличением до миллиона раз! Это возможно благодаря тому, что вместо света в СЭМ используются электроны, которые имеют гораздо меньшую длину волны. Электроны «сканируют» поверхность образца, и благодаря этому мы получаем высококачественные изображения, которые показывают рельеф и форму даже самых мелких деталей.
Процесс работы прост: образец помещают в специальную камеру, и на его поверхность направляют электронный пучок. Взаимодействие электронов с атомами образца приводит к выбросу вторичных электронов, которые улавливает детектор и формирует изображение. С помощью СЭМ можно изучать структуру материалов, границы между слоями, проводить элементный анализ поверхности. Именно поэтому СЭМ становится незаменимым инструментом в ПолиЛаб.
Погрузиться в микромир полимеров мы можем прямо сейчас, стоит только взглянуть на снимки с нашего электронного микроскопа.
На первой фотографии изображена карта элементного анализа участка фильтрующей сетки экструдера после вторсырья
На второй – поперечный срез упаковочной пленки
А на третьей – шарики кислородного сорбента
А какой снимок нравится вам больше всего?
